服務熱線
| 品牌 | KOSAKA/小坂研究所 |
|---|
NanoFocus半導體探針卡檢測設備產(chǎn)品參數(shù)
| 分辨率 | X & Y軸: 0.5-5.1um; |
|---|---|
| Z軸：0.016 um; | |
| 取樣率 | 8000 Hz |
| 工作距離 | 8 mm |
| 掃描寬度 | 630 um |
| 高度范圍 | 300 um – 400 um |
| 機臺尺寸 | 300mm x 300mm（可定制） |
KOSAKA小坂研究所半導體探針卡檢測設備
● 承載量> 50 kg?！?專用探針卡盤；RFID 卡識別。● 適用于SEMI以及SECS/GEM協(xié)議?！?MEMS式, 垂直式, 懸臂式探針卡。● 評估晶圓磨損與探針尖/頭的相關性?！?探測探針卡表面異物與表面堵塞情況?！?持續(xù)監(jiān)測耗損狀況, 精確預測使用壽命?！?迅速評估, 精準定位, 大幅降
KOSAKA小坂研究所半導體探針卡檢測設備
● 承載量> 50 kg?！?專用探針卡盤；RFID 卡識別?！?適用于SEMI以及SECS/GEM協(xié)議?！?MEMS式, 垂直式, 懸臂式探針卡?！?評估晶圓磨損與探針尖/頭的相關性?！?探測探針卡表面異物與表面堵塞情況。● 持續(xù)監(jiān)測耗損狀況, 精確預測使用壽命?！?迅速評估, 精準定位, 大幅降